模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

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模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计
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基金项目:家自然科学基金资助 (594 770 0 2 )，湖南省自然科学基金 (N o.98JJY2 0 3 8)，高等学校骨干教师资助 计划项目 (教文 [2 0 0 0 ] 6 5号 )资助

Topological Conditions ,Analysis and Design for Testability in Analogue Circuits

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深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 ,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法

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The testability problem of analogue circuits and systems was discussed in a comprehensive way.The viewpoint of studying testability form,analysis and design was proposed.For the branch fault diagnosis approach of analogue circuits a number of new necessa

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孙义闯,何怡刚.模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计[J].湖南大学学报：自然科学版,2002,29(1):

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