摘要:面向March C+算法故障覆盖率的问题，本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障，检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障，从而提高故障覆盖率.最后，通过对1 024*32位静态随机存储器进行故障仿真验证，以及FPGA对SRAM芯片的应用性测试，March CS算法检测静态故障和动态故障的覆盖率分别达到91.67％和76.93％.

摘要:用ETCO算法对SRAM进行了内建自测试设计．首先说明了设计的原理，进而对电路中所用的各个单元电路进行了设计，主要包括地址计数器、数据计数器和BIST控制器等．设计出的电路可针对具体的故障模型设置相应的测试长度，从而获得预期的故障覆盖率．测试时不需存储正确响应，并可通过一个响应标志位表示检测的结果．可测性部分对电路硬件的开销较小，所设计的电路在工作站上已成功通过仿真，此电路可广泛应用于嵌入式SRAM，以降低电路的测试难度．